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                              比較儀利用相對法進行測量的長度測量工具,主要由測微儀和比較儀座組成。測量時,先用量塊研合組成與被測基本尺寸相等的量塊組,再用此量塊組使測微儀指針對零,然后換上被測工件,測微儀指針指示的即為被測尺寸的偏差值。

                              用電感式或電容式測微儀(見長度傳感器)作為放大、指示部件。數字顯示電感式比較儀是數字顯示的電感式比較儀,其分辨率有1微米、0.1微米和0.01微米等幾好種。

                              利用光學測微儀作為放大指示部件。常見的有立式、臥式和影屏式3種。

                              ①立式光學比較儀:又稱立式光學計,[光學測微儀的光學系統]為光學測微儀的光學系統。它是按自準直原理(見自準直儀)設計的。分劃板位于物鏡焦平面上,平面反射鏡按杠桿原理設置。當測桿上下移動時,平面反射鏡繞支點轉動一個很小角度,由平面反射鏡反射回去的光線,經直角棱鏡后成象在分劃板上的刻度尺象發生偏移。偏移量的大小與測桿移動距離成比例。光學測微儀的分度值為1微米,示值范圍為0.1毫米。立式光學計適宜在計量室使用,測量范圍為0~180毫米,常用于檢定量塊和光滑量規以及測量工件的外徑、厚度。

                              ②臥式光學比較儀:又稱臥式光學計,其工作原理與立式光學計相同,測量范圍為0~500毫米,適用于在計量室測量較大的或在立式光學計上不易定位的工件,如圓盤等,也常利用測孔附件測量孔徑。

                              ③影屏式光學比較儀:又稱投影光學計,其光學系統與立式光學計相似,但刻度尺影像經投影放大透鏡放大后成象于影屏上。分度值有1微米、0.2微米等。分度值為0.2微米的光學系統采用多次反射以增大光學杠桿的放大比。此外,還有用光波干涉法測量的接觸式干涉比較儀,其分度值為0.05微米、0.1微米和0.2微米。


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